直流電阻測量數(shù)值不穩(wěn)的原因和防止措施：
1、原因之一：過渡過程穩(wěn)定時(shí)間太長
從電工學(xué)知道，測量繞組電阻的過渡過程的方程式為：
U=iRx+Ldi/dt
I=U/Rx(1-e-t/T )
式中T——時(shí)間常數(shù)，等于L/Rx；
Rx——被測繞組電阻
L——被測繞組電感
用這一方程式，在瞬時(shí)電流I達(dá)到穩(wěn)定值I=U/Rx過程中，選取不同的充電時(shí)間t來計(jì)算I。其結(jié)果列于表8中。很明顯，當(dāng)t=5T時(shí)穩(wěn)定電流達(dá)到99.5%I，尚存在0.5的電流誤差，因此在充電時(shí)間小于5T時(shí)測量值會(huì)出現(xiàn)不穩(wěn)定現(xiàn)象（指針指向負(fù)端）。變壓器高壓繞組有很大的電感和較小的電阻，電感達(dá)到數(shù)百甚至數(shù)千H，而電阻一般在1×10-1～1×102Ω之間。這就使得充電時(shí)間常數(shù)較大（T=L/Rx較大），例如：120MVA變壓器測高壓繞組測量一個(gè)電阻值時(shí)充電時(shí)間大約24分鐘，在未穩(wěn)定以前，電橋一直不平衡，出現(xiàn)測量不穩(wěn)定現(xiàn)象。
表8 電流i和充電時(shí)間的關(guān)系
| t | 0 | T | 2T | 3T | 4T | 5T | ∞ |
| i | 0 | 0.63I | 0.865I | 0.95I | 0.98I | 0.995I | I |
縮短穩(wěn)定時(shí)間的方法：
(1)增大電阻的電路突變法，就是在測量電流回路加入一附加電阻，測量時(shí)先將其短路，使電流快速上升，然后接入電阻，使電流很快穩(wěn)定。
(2)恒流源加助磁的方法，其基本目的是為了減小電感。當(dāng)測量低壓側(cè)繞組直流電阻時(shí)，使高壓側(cè)繞組通以勵(lì)磁電流，它等效于在低壓側(cè)繞組加大電流，這樣使鐵心磁通密度過飽和，因而電感下降，則時(shí)間常數(shù)L/R下降。
(3)高壓充電，低壓測量法，如下圖所示
工作時(shí)取U1為U2的10倍以上，U2為電橋電源，D的反向電壓應(yīng)大于U1合K1，K2待電流表指示電流達(dá)I=U2/Rx時(shí)，斷開K1，這樣便可很快地測量了。
(4)使用新型快速測試儀，如3381變壓器直流電阻測試儀，PS-Ⅱ感性負(fù)載低電阻微歐計(jì)等。
2、原因之二：儀器及測量引線的原因
當(dāng)測量引線接觸不好時(shí)出現(xiàn)斷路，無論是電壓回路還是電流回路斷線，電橋均不能平衡。當(dāng)雙臂電橋B按鈕下的接點(diǎn)接觸不好時(shí)會(huì)出現(xiàn)指針左右擺動(dòng)現(xiàn)象，對此可采取下列措施：
(1)測試前保證測量引線完好，接頭氧化層處理干凈。
(2)打開QJ44雙臂電橋檢查電池正常，對B按鈕下常開接點(diǎn)的黑色氧化層用砂紙?zhí)幚怼?/span>
(3)使用新型直流電阻快速測試儀代替QJ44雙臂電橋。
3、原因之三：外界干擾使測量數(shù)值不穩(wěn)
當(dāng)中性點(diǎn)引線不拆時(shí)，外界電磁干擾會(huì)通過引線傳遞入儀器內(nèi)部使放大器輸出有擺動(dòng)。測量一次繞阻時(shí)，如果二次繞阻接地短路線不拆除時(shí)，二次繞阻中有感應(yīng)電勢會(huì)干擾一次繞組的測量。另外，溫度不穩(wěn)定，不平衡時(shí)，也使測量數(shù)值不準(zhǔn)，溫度高的部分出現(xiàn)正偏差，溫度低的出現(xiàn)負(fù)偏差。
防范措施：
(1)測量時(shí)盡量使變壓器引線全部拆除（包括中性點(diǎn)引線），特別是接地的引線。
(2)測量時(shí)應(yīng)保證非被試?yán)@組開路。
(3)測量前應(yīng)保證儀器完好，電池電量充足，需要預(yù)熱穩(wěn)定的一定要等儀器穩(wěn)定后再測量。
(4)在溫度不穩(wěn)定情況不盡量避免測試直流電阻，待氣溫聚變后穩(wěn)定時(shí)再測量，防止變壓器內(nèi)外溫差過大，以及日照影響使直流電阻不穩(wěn)定對測量的準(zhǔn)確性造成影響。